Instrumentación.

  • Microscopio Electrónico de Barrido JSM-6390LV, JEOL.

Resolución: 3 nm (modo de alto vacío) y 4 nm (modo de presión variable)
Voltaje de aceleración: 0.5 KV – 30 KV
Rango de presión variable: 1 Pa – 270 Pa
Detector de electrones secundarios
Detector de electrones retrodispersados
Detector de rayos X (EDS)
Sistema de procesamiento de imágenes SCANDIUM  para Windows XP

 

  • Microanalizador de rayos X INCAx-sight, OXFORD INSTRUMENTS.

Espectrómetro: Energy-Dispersive Spectroscopy (EDS).
Sistema de captura de imagen: INCA mics Module.
Control del detector y adquisición de rayos X: INCA x-stream Module.
Análisis cualitativo y cuantitativo.

b

 

  • Equipo de preparación de muestras, DESK IV.

Formador de películas metálicas para materiales no conductores (Sputtering, blanco de oro).
Extractor de impurezas  en las muestras metálicas (Etch).
Unidad de evaporación de carbón.

c

 

 

  • Microscopio estereoscópico, WILD M7S.

d

 

 

  • Microscopio óptico de polarización, LEITZ.

MICPOL

 

 

  • Espectrofotómetro, JENWAY  6405Uv/Vis.

f

 

 

  • Espectrofotómetro, Red Tide USB650 VIS/NIR.

Rango de longitud de onda 400-2100nm.
Recolección de longitudes de onda mediante fibra óptica R400-7-VIS/NIR.
Medición de la reflexión y fluorescencia de superficies sólidas, o la dispersión y fluorescencia en líquidos y polvos.
Sensibilidad 75 fotones/cuenta.

 


  • Medidor de LCR e Impedancia, HP Multi-Frequency LCR Meter.

Medidor de inductancia (L), capacitancia (C), resistencia (R), impedancia, angulo de fase, reactancia, conductancia, suceptibilidad, factor de dicipación, y la combinación de estos parametros para el estudio de materiales semiconductores, circuitos electrónicos, materiales complejos, etc.
Frecuencias de medición: 100Hz-100kHz.

 

  • Equipo para estudio electroquímico Reference 600, GAMRY.

Potenciostato
Galvanostato
ZRA
Software GAMBRY version 5

g

 

 

  • Pulidora de doble plato FORCIPOL 2V con cabezal FORCIMAT, METKON.

Motor de 0.74 HP
Velocidad de disco variable de 50-600 rpm
Tamaño del disco de 200, 250 mm
Cabezal FORCIMAT para seis muestras
Acepta tamaño de muestras de 25 a 40 mm
Velocidad rotacional del cabezal 120 rpm
Fuerza individual sobre las muestras Min. 5N, Max. 60N

a

 

 

  • Cortadora de precisión MICRACUT 200, METKON.

Rango de posición en la dirección X: 35mm, Y:180 mm, Z: 45mm
Precisión de posicionamiento en la dirección X: 2 micras
Fuerza de corte hasta 60N
Potencia del motor 800W
Velocidad de corte de 400 a 4000 rpm

b

 

 

  • Montadora de muestras en resina METAPRESS-A, METKON.

Acepta tamaños de moldes de 25 mm a 40 mm
Máxima temperatura 240°C
Máxima presión 330 bar
Potencia de calentamiento 1400W

c

 

 

  • Platina térmica MK3 Coolstage, DEBEN.

Acepta tamaño máximo de muestra de 10mm
Máxima temperatura +50°C
Mínima temperatura -30°C

 

 

  • SPM: Microscopio de fuerza atómica (AFM) y de efecto Túnel (STM), JEOL JSPM-5200.

Resolución atómica con puntas de alta resolución
Rango de escaneo X, Y: 0 a 10um
Rango Z: 0 a 3um
Tamaños de muestra: 10mm x 10mm x 3mm de ancho (15mm máximo)
Movimiento de muestra en X, Y: ± 3mm; en Z:5mm
Modalidades de tapping y contacto, fuerza lateral, MFM

AFMySTM


  • Refractómetro de Abbe, ATAGO DR-A1.

Medición del índice de Refracción de líquidos y muestras sólidas como: vidrios de placa, hojas plásticas y otras películas sólidas.
Rango de medición: Índice de Refracción (nD) 1.3000 a 1.7100; Brix 0.0 a 95%
Indicación de temperatura de 5 a 50°C
Exactitud: Índice de Refracción ±0.0002; Brix ± 0.1%



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