Cantilever y Sensor
Escaner de Nitruro de Silicio utilizado en la modalidad de "Tapping" del AFM. La imagen muestra el cantilever (viga) de aprox 70um de longitud junto con el sensor de 10nm de diametro en la punta.

Partículas de Estaño
Imagen procesada en el software SCANDIUM. Los colores falsos resaltan la topografía y los distintos planos de la muestra.

Cable de partículas de Óxido de Cobalto
Estructuras de 2um de diametro sintetizadas a partir de un método coloidal. Este material esta compuesto por cristales de Óxido de Cobalto aglomerados.

Mosca recubierta de Oro
La imagen fue tomada en el SEM con el detector de electrones secundarios en alto vacío. Para evitar la acumulación de carga se recubrio con una capa de Oro mediante "Sputtering".

Efecto de corrosión
Aleación Nickel-Cromo atacada con agua regia. La imagen muestra la corrosión preferente en ciertas zonas de la muestra.

Monocristal de Boracita
Imagen de la Boracita de Fe-Cl mostrando los planos cristalinos. Este material dieléctrico despliega propiedades ferroeléctricas.

Diatomea
Coscinodiscus observado en la modalidad de bajo vacío del SEM.

Picadura
Imagen de Acero Inoxidable recubierto por 10 capas de TiAlN/TiAl. Se muestra el efecto corrosivo del acido Clorhídrico llegando hasta el sustrato.

Gonyaulax Spinifera
Diatomea observada en alto vacío del SEM. La muestra, colectada en Mzllo, presenta una toxicidad considerable en concentraciones abundantes.

Sensor de gas
Muestra de Óxido de Cobalto exibiendo su estructura cristalina. Este material semiconductor presenta sensibilidad al O2 y al CO2.

Burbuja reventada
Estructura de burbuja formada sobre una superficie polimérica. El espectro de EDS capta concentración de Cl2 acoplándose a la forma circular de la estructura.

Diatomea de la bahía de Mzllo.
Observación en bajo vacío de la Mastogloia colectada en Manzanillo. Esta imagen fue obtenida con electrones retrodipersados.

Mapeo de cristales de Sulfato de Plomo
Cristalización sobre electrodos de pasta de Carbón. El espectro de EDS indica la prescencia de Plomo, Oxigeno y Azufre, entre otros; así como la localización de estos.

Foco
Imagen de un filamento de Tungsteno utilizado en los lamparas de iluminación comunes.

Tercer ojo de las avizpas
Los Ocelos vistos bajo el SEM. Este "tercer ojo" ayuda a la orientación de las avizpas durante su vuelo. El insecto fue recubierto por una delgada capa de Oro para hacer posible su observación en alto vacío.

Nanoparticulas observadas en AFM
Polimero observado con la modalidad de Tapping del AFM. Se depliegan partículas del material con un tamaño promedio de 30nm.

Cristales cuarzo
Aglomeración de cristales de cuarzo observados con un voltaje de 15kV en una magnificación de 120X.

Punta de contacto
Morfología de las puntas de contacto utilizadas en AFM. El material es Nitruro de Silicio con un diametro aprox de 10nm en la punta.

Red polimérica
Polímero con porosidad promedio de 12um. Debido al proceso de sintesis del material, fue posible su obsevación en alto vacío sin recubrimiento.

Cuerpo de una bala
Observacion del casquillo de una bala calibre 9mm. La imagen fue obtenida a 15 kV con una magnificación de 25X

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